چکیده: در این پروژه یک روش اسپکتروفتومتری سریع، ساده با گزینش پذیری بالا برای اندازه گیری پالادیم پیشنهاد شده است. پالادیم در محیط اسیدی و در حضور سدیم دو دسیل سولفات(SDS) به عنوان عامل مایسلی کننده با TAN کمپلکسی تشکیل می دهد که ماکزیمم جذب این کمپلکس در طول مو ج های 724 و 662 نانومتر می باشد. دامنه خطی غلظت در 724 و 662 نانومتر به ترتیب 6/00-0/100و 6/00-0/120 میکروگرم بر میلی لیتر پالادیم می باشد. همچنین حدتشخیص روش به ترتیب 0/024 و 0/023 میکروگرم بر میلی لیتر می باشد. نتایج نشان می دهد بیشتر یون ها در غلظت های بالا مزاحمتی ایجاد نمی کنند. انحراف استاندارد نسبی برای 6 اندازه گیری تکراری غلظت های 1/50، 3/00، 5/00 میکروگرم بر میلی لیتر پالادیم در 724 و 662 نانومتر به ترتیب %1/58، %1/32، %1/63 و %0/999، %0/760، %1/03 بدست آمد. قابلیت روش در آنالیز نمونه های حقیقی با اندازه گیری پالادیم در نمونه آب شهر و آلیاژهای سنتزی ارزیابی شده است. در این پروژه یک روش اسپکتروفتومتری ساده، حساس با گزینش پذیری بالا به منظور تعیین همزمان پالادیم(II) و مس(II) با استفاده از روش افزایش استاندارد نقطه–اچ ارائه می شود. این روش بر اساس تشکیل کمپلکس بین پالادیم(II) و مس(II) با لیگاند 1-(2-تیازولیل آزو) -2-نفتل در محیط مایسلی سدیم دو دسیل سولفات((SDS می باشد. دامنه خطی غلظت برای پالادیم 6/00-0/100 میکروگرم بر میلی لیتر و برای مس 3/40-0/040 میکروگرم بر میلی لیتر می باشد. نتایج کاربرد روش افزایش استاندارد نقطه –اچ نشان می دهد که می توان بطور همزمان پالادیم(II) و مس(II) را تعیین مقدار نمود در حالی که نسبت غلظتی پالادیم(II) به مس(II) از 7 به 1 تا 1به 5 تغییر می کند. روش پیشنهاد شده برای تعیین همزمان پالادیم(II) و مس(II) در چندین نمونه آلیاژ و آب به طور موفقیت آمیزی به کار برده شده است.