{
    "metadata": {
        "dataset_id": "shahroodut-thesis",
        "record_id": "QC412",
        "title": "رشد و مشخصه یابی لایه های نازک SnO2 آلایش یافته با ایندیوم",
        "publisher": "دانشگاه صنعتی شاهرود",
        "owner": "کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود",
        "license": "CC-BY-4.0",
        "license_url": "https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/",
        "license_text": "استفاده، بازنشر، تحلیل، پردازش و بهره برداری پژوهشی، آموزشی و صنعتی با ذکر منبع دانشگاه صنعتی شاهرود مجاز است.",
        "publication_date": "1397",
        "last_update": "2026-07-11",
        "language": "fa",
        "format": "application/json",
        "contact": "thesis@shahroodut.ac.ir",
        "access": {
            "fulltext_available": "true",
            "public_access": "true"
        }
    },
    "data": {
        "thesis_id": "QC412",
        "title": "رشد و مشخصه یابی لایه های نازک SnO2 آلایش یافته با ایندیوم",
        "degree": null,
        "faculty": "فيزیک",
        "year": 1397,
        "authors": [
            {
                "name": "مریم کیقبادی",
                "role": "پدیدآور اصلی"
            },
            {
                "name": "محمد ابراهیم قاضی",
                "role": "استاد راهنما"
            },
            {
                "name": "مرتضی ایزدی فرد",
                "role": "استاد راهنما"
            }
        ],
        "keywords": [
            "لایه نازک",
            "دی اکسید قلع",
            "سل-ژل",
            "آلایش ایندیوم",
            "خواص ساختاری و اپتیکی"
        ],
        "abstract": "در این پایان نامه لایه های نازک SnO2 خالص و آلایش یافته با درصد های اتمی مختلف ایندیوم (0%، 2.5%، 5%، 10% و 15%) بر روی زیر لایه شیشه به روش سل-ژل غوطه وری سنتز شدند و تاثیر زمان بازپخت، دمای بازپخت و آلایش ایندیوم روی خواص ساختاری و اپتیکی نمونه ها مورد بررسی قرار گرفت. برای مشخصه یابی ساختاری نمونه ها از اندازه گیری طیف پراش اشعه ایکس (XRD) و طیف رامان، برای بررسی مورفولوژی سطح نمونه ها از دستگاه FESEM، ترکیب عناصر نمونه ها از دستگاه EDAX و خواص اپتیکی نمونه ها از دستگاه UV-Vis در محدوده طول موجی nm 1100-300 استفاده شد. آنالیز طیف های XRD نمونه های خالص نشان داد که افزایش زمان بازپخت از 1 تا 3 ساعت کیفیت بلوری نمونه ها را بهبود می دهد و در زمان بازپخت 3 ساعت ساختار چهار گوش روتایل  SnO2تشکیل می گردد. مقادیر گاف نواری نمونه ها با افزایش زمان بازپخت اندکی کاهش پیدا می کند. طیف های XRD نمونه های با دمای بازپخت  400 ، 450 و 500 درجه سانتیگراد نشان داد که با افزایش دمای بازپخت فاز خالص SnO2 تشکیل می گردد. تصاویر FESEM نمونه ها نشان داد که  یکنواختی سطح لایه بازپخت شده در دمای  450 درجه سانتیگراد از سایر نمونه ها بهتر است. متوسط میزان عبور برای تمام نمونه ها بیش از 85% بود و مقادیر گاف نواری نمونه ها با افزایش دمای بازپخت اندکی افزایش می یابد. طیف های XRD  نمونه های آلایش یافته با ایندیوم در بررسی اثر آلایش ایندیوم بر لایه های نازک  SnO2تشکیل ساختار چهار گوش روتایل SnO2 را نشان داد. نتایج مطالعه اپتیکی نمونه ها نشان داد که میزان عبور با آلایش کاهش یافته و مقادیر گاف نواری نمونه ها نیز با افزایش ناخالصی ایندیوم کاهش می یابد.",
        "repository": "کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی شاهرود",
        "note": "حقوق مادی و معنوی متعلق به دانشگاه صنعتی شاهرود می باشد.",
        "download_url": "https://shahroodut.ac.ir/fa/thesis/files/somefiles/sf_QC412.pdf"
    },
    "dictionary": {
        "thesis_id": "شناسه پایان نامه",
        "title": "عنوان پایان نامه",
        "degree": "مقطع تحصیلی",
        "faculty": "دانشکده",
        "year": "سال دفاع",
        "authors": "پدیدآورندگان",
        "keywords": "کلیدواژه ها",
        "abstract": "چکیده",
        "repository": "محل نگهداری",
        "note": "یادداشت",
        "download_url": "آدرس فایل پایان نامه"
    }
}